在调试电磁干扰 (EMI) 问题时，电子设计工程师面临着识别无用辐射源并制定解决方案的挑战。在 EMC 一致性实验室进行重复测试以识别和解决问题既成本昂贵，通常还会严重推迟产品的发布时间。常见测试遍布整个产品开发的过程，可避免进行大规模再设计，从而能够有效地减少产品的发布成本和延迟。

数字示波器与近场探头搭配使用，是设计过程中的强大调试仪器。设计人员可以在初期阶段快速定位和分析 EMI 问题。较高的动态范围和 1 mV/div 的高输入灵敏度，确保了即使辐射源很微弱，也可以对其进行分析。R&S®RTO 快速傅里叶变换 (FFT) 提供了快速更新率，FFT 帧重交叠的处理方式和余晖显示功能可以深入了解分析无用辐射。

罗德与施瓦茨提供一系列具有专用测试模式的仪器，例如频谱分析仪模式（结合零频宽）、实时测量余晖模式和频谱图视图等。针对 EMI 测试程序，可使用步进扫描接收机模式（传统模式）和时域（基于 FFT）接收机模式。步进扫描模式可以对整个频谱实现逐点扫描，而时域模式可以并行处理多个频点。

示波器使用近场探头捕获到的辐射。

通过频谱图视图观察到的 DUT 时域时序行为。