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相约SEMICON，NI 晒出半导体测试方案全家福
2019-08-14 11:54:33· 来源：恩艾NI
全球半导体界盛会SEMICON将于2019年3月20日~22日开幕，NI作为半导体测试测量行业的引领者，将在展会上重点展出一系列创新方案，包括STS系统、ADC/DAC测试系统、5
全球半导体界盛会SEMICON将于2019年3月20日~22日开幕，NI作为半导体测试测量行业的引领者，将在展会上重点展出一系列创新方案，包括STS系统、ADC/DAC测试系统、5G芯片测试系统等明星产品。
在SEMICON邂逅NI
2019年3月20~22日
上海新国际博览中心
展位号：N1馆1618号
SEMICON开展在即，先来细数NI将展出的吸引力指数爆表的产品。
01、NI半导体测试平台
覆盖从实验室验证到量产测试的全流程：
- 实验室特征分析：NI平台具有最佳实验室交互体验帮助工程师快速调试、分析，高性能高精准同步PXI仪器保障测试能力，并与自动化测试无缝对接。
- 晶圆测试：NI覆盖WAT，CP，晶圆可靠性测试等场景。NI fA级高性能源测量单元大幅提升晶圆测试通道密度及并行性、降低系统体积。
- FT测试：NI平台利用原有开放性和灵活性，与生产环境要求对接，高吞吐量测试特性提升测试效率、减低测试时间。
- SLT系统级测试：通过系统协议级通信、异步并行测试、可扩展的模块化平台减低系统级测试时间和成本。
02、Talos实验室工程Handler
该实验设备具有以下特点：
- 全自动
- 支持三温测试（温度范围：-60-175℃）
- 温度稳定性高+/-0.5℃
- 最高可达150公斤测试压力
- 自动激光定位系统
- 转换配件更换时间少于五分钟
- 机械稳定性好
03、NI 半导体测试系统STS
NI的半导体测试系统 (Semiconductor Test System, 简称STS) 提供了可快速部署到生产的测试系统，适用于半导体生产测试环境（实验室验证、晶圆级测试、FT测试等）。此外，PXI平台开放式与模块化的设计，使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源，进一步提升半导体测试效率，降低测试成本。
04、基于PXI的ADC/DAC测试方案
高性能仪器同步
- 高性能：PXI仪器覆盖高精度信号源、时钟源、低噪声电源，支持基于向量pattern的数字模块，以及JESD204b等高速SerDes数字通道等仪器；
- 高同步：PXI平台保障多种仪器高精准同步
交互式软件体验
- 最佳交互体验：NI InstrumentStudio简单上手完成仪器配置、结果显示、报告生成等；
- NI软件平台无缝衔接交互式GUI、测试模块开发、自动化程序导入，方便自动化测试开发。
可扩展标准工业平台
- 高可扩展性：模块化PXI仪器，可以轻松扩展测试接口、提高测试性能、增加处理能力；
- 标准化平台：PXI平台作为标准化的工业测试平台，兼容第三方仪器。
05、电源管理芯片性能测试
- 高性能仪器应对测试挑战
NI特有的高性能源表（Source Measurement Unit），满足电源管理芯片对于精度、测量速度的要求。使用ATE级别的数字模式仪器（Digital Pattern Instrument），利用数字模式编辑软件，轻松完成数字测试，并且Pattern 和代码均可复用在量产测试中。
- 模块化架构适应集成化趋势
电源管理芯片功能集成度越来越高，除了DC/DC转换电路，还可能包含RF，USB，LDO等模块，利用PXI平台的模块化架构，可以使用同一平台应对不同功能PMIC的测试需求，大幅度降低测试设备投入成本，开发成本及学习成本。
06、最新5G射频芯片测试方案
NI自5G原型阶段深度参与，和业界射频领先用户合作，通过NI软硬件平台实现大规模天线、毫米波频段等5G重点方向的原型平台设计。NI以软件为中心的模块化仪器，在5G芯片商用化的今天充分保证最新5G标准RFIC的测试要求。
07、 I2C，SPI验证方案
除了以上展品，您还能在NI的众多partner展位上看到NI的其他产品（非常多，到了现场就知道了）。
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