相约SEMICON,NI 晒出半导体测试方案全家福
- 实验室特征分析:NI平台具有最佳实验室交互体验帮助工程师快速调试、分析,高性能高精准同步PXI仪器保障测试能力,并与自动化测试无缝对接。
- 晶圆测试:NI覆盖WAT,CP,晶圆可靠性测试等场景。NI fA级高性能源测量单元大幅提升晶圆测试通道密度及并行性、降低系统体积。
- FT测试:NI平台利用原有开放性和灵活性,与生产环境要求对接,高吞吐量测试特性提升测试效率、减低测试时间。
- SLT系统级测试:通过系统协议级通信、异步并行测试、可扩展的模块化平台减低系统级测试时间和成本。
- 全自动
- 支持三温测试(温度范围:-60-175℃)
- 温度稳定性高+/-0.5℃
- 最高可达150公斤测试压力
- 自动激光定位系统
- 转换配件更换时间少于五分钟
- 机械稳定性好


- 高性能:PXI仪器覆盖高精度信号源、时钟源、低噪声电源,支持基于向量pattern的数字模块,以及JESD204b等高速SerDes数字通道等仪器;
- 高同步:PXI平台保障多种仪器高精准同步
- 最佳交互体验:NI InstrumentStudio简单上手完成仪器配置、结果显示、报告生成等;
- NI软件平台无缝衔接交互式GUI、测试模块开发、自动化程序导入,方便自动化测试开发。

- 高可扩展性:模块化PXI仪器,可以轻松扩展测试接口、提高测试性能、增加处理能力;
- 标准化平台:PXI平台作为标准化的工业测试平台,兼容第三方仪器。

- 高性能仪器应对测试挑战
- 模块化架构适应集成化趋势
06、最新5G射频芯片测试方案


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