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新思科技又上新了——TestMax，测试和诊断的黑科技
2019-04-10 21:59:43· 来源：新思科技
全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform，确保最快上市时间与最佳设计功耗、性能与面积 先进的汽车功能安全支持包括软错误分析和X-tolerant逻辑BI
全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform™，确保最快上市时间与最佳设计功耗、性能与面积
先进的汽车功能安全支持包括软错误分析和X-tolerant逻辑BIST，以符合ISO 26262标准要求
通过功能用途高速接口进行的测试带来了前所未有的测试带宽与便携性
新思科技(Synopsys, Inc.，纳斯达克股票市场代码：SNPS)近日宣布，TestMAX™系列产品上市，其创新的测试与诊断功能适用于半导体器件的所有数字、存储和模拟部分。
新思科技TestMAX系列包括用于汽车测试和功能安全的独特功能及技术，利用设计中常见的高速接口，实现全新级别的测试带宽和效率。功能强大、可高度配置的测试自动化流程提供新思科技TestMAX所有功能的无缝集成。全面RTL集成支持复杂DFT逻辑的早期验证，并且与新思科技Fusion Design Platform™的直接链接保证了对物理、时序和功耗的关注。这些新功能，加上早期可测试性分析与规划、层次化ATPG压缩、物理感知诊断、BIST、存储自测试与修复以及模拟故障仿真等综合支持，确保新思科技TestMAX产品系列在解决重要测试问题的同时实现今后高要求应用的有效测试。
人工智能和汽车等快速发展的新应用增加了设计规模与复杂性。这些不断发展的细分市场需要前所未有的高质量和长期可靠性。独特的TestMAX软错误分析计算ISO 26262标准数据，从而识别与解决设计周期早期发现的潜在问题，并引导有效的设计变动。
满足强制功能安全级别的需求让先进半导体测试的重要性与集成必要性发生了重大改变。通常一旦车辆启动并运行，器件就必须实施自测试机制。逻辑Logic BIST通常用于检查器件逻辑中的安全故障，但无法容忍未知的电路状态，如那些源自设计定案后时序异常引发的情况。
新思科技TestMAX推出了业界首个X-tolerant逻辑BIST解决方案，该解决方案可以在未知状况下运作，并且与竞争对手的逻辑BIST解决方案相比，创新的reseeding技术在更短的时间里显著提升了故障覆盖率。新思科技 TestMAX提供了片上基础架构，用于车辆启动或运行期间定期运行X-tolerant逻辑BIST。
“我们用户的设计越来越多地用于汽车应用。新思科技 TestMAX X-tolerant逻辑BIST解决方案能够在最不影响设计的情况下，帮助用户实现他们宏伟的测试时间和覆盖率自测试目标。”
JY Choi 三星电子代工厂设计技术团队 副总裁
随着设计规模不断增长，管理制造测试时间已经愈发困难。由于测试探针和相关时钟频率的有限增长，测试应用带宽通常不升级。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如当今大部分器件上存在的USB和PCI Express，带来了突破性的解决方案。新思科技TestMAX通过这些功能接口中的一个或多个应用到所有的制造测试上，带来几乎不受限制的测试带宽，并且减少(如果无法消除0专有测试探针的开支。由于使用了功能接口，所有的测试变得完全便携式，可以用于产品生命周期中的各个阶段。
“由于多项技术与市场趋势带来的综合影响，我们的用户正面临新的测试挑战。通过新思科技TestMAX系列产品实现的创新已经为许多设计公司带来关键优势。我们致力于不断完善解决方案，以满足他们的未来需求。”
Steve Pateras 新思科技芯片设计事业部 高级营销总监
先进的汽车功能安全支持包括软错误分析和X-tolerant逻辑BIST，以符合ISO 26262标准要求
通过功能用途高速接口进行的测试带来了前所未有的测试带宽与便携性
新思科技(Synopsys, Inc.，纳斯达克股票市场代码：SNPS)近日宣布，TestMAX™系列产品上市，其创新的测试与诊断功能适用于半导体器件的所有数字、存储和模拟部分。
新思科技TestMAX系列包括用于汽车测试和功能安全的独特功能及技术，利用设计中常见的高速接口，实现全新级别的测试带宽和效率。功能强大、可高度配置的测试自动化流程提供新思科技TestMAX所有功能的无缝集成。全面RTL集成支持复杂DFT逻辑的早期验证，并且与新思科技Fusion Design Platform™的直接链接保证了对物理、时序和功耗的关注。这些新功能，加上早期可测试性分析与规划、层次化ATPG压缩、物理感知诊断、BIST、存储自测试与修复以及模拟故障仿真等综合支持，确保新思科技TestMAX产品系列在解决重要测试问题的同时实现今后高要求应用的有效测试。
人工智能和汽车等快速发展的新应用增加了设计规模与复杂性。这些不断发展的细分市场需要前所未有的高质量和长期可靠性。独特的TestMAX软错误分析计算ISO 26262标准数据，从而识别与解决设计周期早期发现的潜在问题，并引导有效的设计变动。
满足强制功能安全级别的需求让先进半导体测试的重要性与集成必要性发生了重大改变。通常一旦车辆启动并运行，器件就必须实施自测试机制。逻辑Logic BIST通常用于检查器件逻辑中的安全故障，但无法容忍未知的电路状态，如那些源自设计定案后时序异常引发的情况。
新思科技TestMAX推出了业界首个X-tolerant逻辑BIST解决方案，该解决方案可以在未知状况下运作，并且与竞争对手的逻辑BIST解决方案相比，创新的reseeding技术在更短的时间里显著提升了故障覆盖率。新思科技 TestMAX提供了片上基础架构，用于车辆启动或运行期间定期运行X-tolerant逻辑BIST。
“我们用户的设计越来越多地用于汽车应用。新思科技 TestMAX X-tolerant逻辑BIST解决方案能够在最不影响设计的情况下，帮助用户实现他们宏伟的测试时间和覆盖率自测试目标。”
JY Choi 三星电子代工厂设计技术团队 副总裁
随着设计规模不断增长，管理制造测试时间已经愈发困难。由于测试探针和相关时钟频率的有限增长，测试应用带宽通常不升级。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如当今大部分器件上存在的USB和PCI Express，带来了突破性的解决方案。新思科技TestMAX通过这些功能接口中的一个或多个应用到所有的制造测试上，带来几乎不受限制的测试带宽，并且减少(如果无法消除0专有测试探针的开支。由于使用了功能接口，所有的测试变得完全便携式，可以用于产品生命周期中的各个阶段。
“由于多项技术与市场趋势带来的综合影响，我们的用户正面临新的测试挑战。通过新思科技TestMAX系列产品实现的创新已经为许多设计公司带来关键优势。我们致力于不断完善解决方案，以满足他们的未来需求。”
Steve Pateras 新思科技芯片设计事业部 高级营销总监
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