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T3ster — 功率电子热测试设备

2019-08-01 19:55:01·  来源：经纬恒润  
　
T3ster 是美国Mentor Graphics 公司研发的瞬态热测试仪，基于国际标准的静态实验方法JESD51-1，测量IGBT、MOS 管、功率二极管、三极管、LED、微机电系统等半导体
T3ster 是美国Mentor Graphics 公司研发的瞬态热测试仪，基于国际标准的静态实验方法JESD51-1，测量IGBT、MOS 管、功率二极管、三极管、LED、微机电系统等半导体电子器件的热阻、热容特性，用于新能源汽车、交通、工业、电力电子等行业的功率电子无损检测、功率循环测试等。

产品介绍

T3ster 的基本配置包括测试主机以及PC 端的测量控制和结果分析软件，T3ster 扩展应用配置包括TeraLED、DynTIM和Power Tester 1500A。

T3ster

- 实现芯片结温、结壳热阻、内部各层热容-热阻等热特性的快速无损测量，可用于电子元器件的校准，实现接触热阻测量

- 可用于芯片缺陷检测或故障分析以及PCB焊点的可靠性测试

- 可为FloTHERM提供详细的热特性数据，帮助快速建立和修正仿真模型

- 高达1μs系统瞬态测试间隔下，拥有市场更高灵敏度（其温度分辨率达0.01 摄氏度）


TeraLED

- 拥有高精度的辐射和光学测量仪，能对LED热特性包括温度、寿命和可靠性等进行全面准确的测量

- 其自带软件能自动分析光通量、光效率、效能以及色差坐标，数据可直接导入Flotherm/FloEFD 进行后续LED 灯总成的热分析


DynTIM

- 热界面材料(TIM)热特性测试的行业先进设备，与T3Ster配合，测试材料分辨率可达1μm

- 提供业界先进的TIM测试方案，其相对精度高达±5%

- 可实现多种可压缩材料如导热硅胶、散热垫、各种相变材料以及其他粘合剂和固体试样等的热测试


Power Tester 1500A

- 广泛应用于汽车、铁道等 IGBT 热特性的无损检测，以及IGBT 的加速疲劳特性测试

- 集功率循环、热瞬态测试、热结构函数分析于一身

- 内置多种功率加载模式，如恒定功率、恒定温升、恒定电流

- 实时故障原因诊断，如芯片键合线断开、芯片及封装内材料分层与破损、焊膏老化等

- 全周期连续监控，可监控从起始到失效的全过程

- 使用灵活，单通道最大500A，三个通道可独立使用也可联立使用

 
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