罗德与施瓦茨增强汽车雷达罩测试仪功能,为材料反射测量带来了新的精度水平
OEM整车厂和一级供应商通过新的 QAR-K50 单一天线集群测量软件,以非破坏性的、二维的方式进行测量,并能得到非常接近于以矢量网络分析仪 (VNA) 和准光学 (QO) 装置所获得的测量结果。此外,用户还将从 QAR的直观操作理念中获益。
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QAR 是一套适用于雷达罩和保险杠的测试与验证的毫米波成像系统。得益于其出众的性能、速度、质量以及直观的操作,该系统成为一套完美的工具,应用范围覆盖从76 GHz到81 GHz的雷达罩材料和集成测试,包括从研发、生产到验证的各个环节。
高空间分辨率是以在入射角方面具有更大的扩展为代价的。典型的雷达传感器具有一定的视场(FOV),例如全范围雷达(FRR)是±10度,而短距离雷达(SRR)是±60度。根据材料表征技术,雷达罩的反射参数主要以垂直入射角来定义,因为这些参数可以使用矢量网络分析仪(VNA)进行测量。QAR-K50软件选件即基于这个主题。
将QAR提供的结果与使用标准矢量网络分析仪 (VNA) 和准光学 (QO) 装置测量的结果进行比较,利用QAR所用的较大孔径,能够观察到并解释测试对象的某些误差。
这就是QAR-K50软件选件发挥效力之处。它会自动检测材料样本中的最高反射和测试区域的平均值。反射区域的平均值在 7 秒内即可确定并将测量结果显示给用户。此数值与 VNA 的 S11 和 S22 反射测量结果非常匹配。
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研发过程中用 VNA 和 QO 装置进行的测量结果,现在可以直接与QAR的测量结果进行比对。本系统仍然利用微波成像技术,但天线孔径更小,因此对定位误差的敏感度较低,比VNA装置更加适合于生产环境。即使样品定位稍有公差,QAR-K50软件也能够自行检测正确的测量区域,并为操作员提供光学反馈。现在,QAR将适用于均一性分析的高分辨率图像(QAR-K10软件) 与稳健易用的反射测量相结合。以QAR-K50软件选件所得的测量值,可直接相当于 VNA 在 QO 设置中提供的结果。
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