东扬(TOYO)新专利!高频阻抗测量系统
经历了70年的技术积累和不断的试错,TOYO为国内带来了全世界最前沿的材料测试技术“LN-Z2-HF可变温高频阻抗测试系统”。目前该测试系统已经获得了国际上与中国的专利许可,并且收获了中国、日本以及美国众多顶尖材料研究学者的好评,让我们一起来看看这一套系统能够带来些什么吧!
材料的基础物性研究是产品产业化的根基,当一种材料需要产业化的时候,我们必须尽可能大范围地,高精度地掌握它的大部分特性,以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向,造成不必要的损失。高频阻抗测试系统正是在这样的需求下诞生的一款拥有超高频率范围,超高精度的一款阻抗测试系统。
目前市面上的高频阻抗测试系统虽然标称可以到30MHz以上,但是由于信号在高频下通过导线时造成的损耗,实际有效测试频率往往不到1MHz。
东扬通过了改进的IV模式及补偿算法,搭配以低共振夹具结构获得了极其低的测量噪声0.05%。把测量还原于样品端,使其不受测量环境的干扰,并把最大频率提升至100MHz!!
拥有了如此的性能,这样的一款产品它能扫描到高达100MHz区间内的有效信息,对于拥有前端材料但苦于缺少更高频率检测手段的广大科研人员来说可是福音!!
专利号:201780096021X
东扬精测系统(上海)有限公司
尖端应用测量部
上海市静安区梅园路228号企业广场310室
021-63809633
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