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泰克先进半导体开放实验室V2.0正式揭幕，开启功率器件测试新篇章

2024-07-09 10:02:12·  来源：泰克科技  
　

泰克科技（中国）有限公司正式推出泰克先进半导体开放实验室V2.0！作为北京先进半导体测试领域的领军者，我们的实验室经过全面升级，现已在京揭幕。此次升级不仅是技术解决方案的飞跃，更是对创新精神的一次深刻体现，旨在扩展全面的测试能力，提供一站式解决方案，打造一个开放、协作、共赢的生态平台，携手用户共同应对新技术测试的挑战。



实验室升级亮点


设备更新：新增GaN器件开关测试、SiC功率器件的短路测试、雪崩测试及更全面的静态参数和电容参数测试系统。


创新测试系统：引入全新面向第三代半导体功率器件的可靠性测试系统，满足日益增长的测试需求。


本地化服务：自2022年成立以来，已为超过300人次提供测试服务，测试器件种类超过1000种，是国内领先的三代半导体功率器件测试平台。



此次揭幕仪式得到了行业内外的广泛关注和支持。泰克科技中国区分销业务总经理宋磊为本次盛会做了开幕致辞，第三代半导体产业技术创新战略联盟副秘书长高伟博士，中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟副秘书长侯喜峰，国家新能源汽车创新中心功率测试平台负责人郭大铭，以及泰克科技技术总监张欣也在现场进行了精彩分享。泰克的合作伙伴飞仕德、众力为、欧菲特等展示了与泰克在第三代半导体应用上的合作成果。



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测试系统介绍


DPT1000A动态参数测试系统


■ 功能与特点：DPT1000A具备高测试带宽、低寄生参数和高兼容性，能够完成包括开关参数、反向恢复、雪崩测试和短路测试等在内的多种动态参数测试。


■ 适用范围：支持Si MOSFET、IGBT、PMOS、SiC、GaN等多种功率器件的动态特性表征，适配多种测试标准，广泛应用于新一代功率器件的研发和验证。


SPT1000A静态参数测试系统



■ 功能与特点：SPT1000A系统搭载业界领先的源表（SMU）和精密LCR表，能够在高压、大电流条件下实现精确测量和参数分析。系统具有漏电流测试分辨率高、寄生电容测量精度高的优势。


■ 适用范围：适用于各类分立器件的静态参数测试，包括二极管、三极管、绝缘栅型场效应管等，特别是新型功率半导体器件如碳化硅、氮化镓等的静态参数测试。

HTXB-1000B动静态综合老化测试系统



■ 功能与特点：HTXB-1000B系统针对三代半导体功率器件设计，依据AQG-324标准，通过加速老化条件下的静态和动态压力测试，评估器件的老化特性和工作寿命。


■ 适用范围：帮助器件生产厂商和用户在较短时间内了解功率器件的老化特性，预判和分析在实际应用中可能出现的故障，提升产品可靠性。

DHTOL-1000B功率器件工况老化测试平台



■ 功能与特点：DHTOL-1000B采用高温操作寿命（HTOL）测试方法，模拟器件在实际工作环境下的老化过程，通过硬开关测试有效预测器件的预期寿命。


■ 适用范围：为SiC和GaN等第三代半导体功率器件的可靠性评估提供科学依据，帮助设计者深入理解器件在预期寿命周期内的性能表现，制定更精准的产品开发和优化决策。

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