半导体参数分析仪4200A自定义软件解决方案
直播内容
Tektronix/Keithley 4200A-SCS广泛应用于半导体物理、新型材料/器件、先进工艺等领域的研究,是业内性能领先的优秀的电学特性参数分析仪。但由于仪器控制软件Clarius的设计限制,在某些方面,如PMU脉冲宽度设置(不能超过1s)、每秒测试点数控制(用户无法设置)、测试总数据量(每通道不能超过65536点)等,无法满足用户在忆阻器、光电器件等各方向研究上的长时间测试采集存储的需求。
索相科技提供了长时间采集存储的测试解决方案,完美适配4200A参数分析仪及Clarius软件。基于自定义软件平台KULT,还可以有更多的解决方案。
扫描二维码
锁定直播内容
演讲内容
1 4200A长时间采集存储解决方案
PMU脉冲宽度设置5ns~40s的程序
PMU及SMU设置每秒测试点数的程序
PMU及SMU测试总数据量仅受硬盘容量大小限制
2 KULT自定义软件平台介绍
演讲嘉宾
演讲嘉宾:林彩霞
演讲时间:6月28日 14:30-15:30
-
汽车测试网V课堂
-
微信公众号
-
汽车测试网手机站
编辑推荐
最新资讯
-
一文讲解:VCU应用层算法开发流程
2025-01-23 09:05
-
美国发布氢燃料汽车燃料系统完整性及压缩氢
2025-01-23 08:17
-
《乘用车线控转向系统方向盘手感模拟控制器
2025-01-23 08:14
-
模拟实际工况,采埃孚申请一项名为“用于测
2025-01-23 08:09
-
一文讲清油门防误踩功能ACPE及法规测试要求
2025-01-23 08:08