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基于有机EL器件超低辉度运行的新型检测技术，东扬公司(TOYO)已完成产品化、10月开始即将全球开售
日前，东扬公司(TOYO Corporation)的全资美国子公司TOYOTech、夏普公司(Sharp Display)、日本国立大学法人北陆先端科学技术大学院大学，三方共同开发完成了基于有机EL器件超低辉度运行的新型检测技术。本检测技术，针对有机EL器件在电流急剧产生时的电压和发光开始的电压之间差压会随着器件老化而增大这一现象，进行了量化检测，此检测技术将对有机EL器件老化和低辉度下产生的Mura解析起到指导作用。针对这一检测技术，在8月份在韩国举行的相关相关国际会议(International Meeting onInformation Display)上，参与共同开发的三方单位进行了联合发表及说明。
2024年10月1日起，采用这一先进技术的【DCM1000型DC-JVL测试系统】将正式开始面向中国、美国、日本、欧洲等业内客户销售。
【 背景／概要 】
有机EL器件由几十纳米的薄膜叠加而成，为对各层薄膜的成膜条件进行优化，需要进行相关的特性测试。这类测试主要指J-V-L（电流密度-电压-辉度）特性测试，也即加载电压的同时检测电流和发光辉度。但在J-V-L特性中，针对器件发光开始的微小电流和低辉度，由于目前检测设备的精度限制无法正确测试。
本次开发的检测技术，可对有机EL器件内的微小电流（变位电流）和基于高感度硅光二极管的发光强度进行同时检测，进一步检出发生急剧电流变化的电压和发光开始电压之间的差压，对检出数据进行解析。另外，不仅是超低辉度，针对高辉度的电流、发光强度也可进行优化测试，从而达到“可解析有机EL老化发生的Mura问题”的目的，最终改良有机EL的性能。
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东扬精测系统（上海）有限公司
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东扬精测系统（上海）有限公司
市场部
2024年9月
东扬精测系统（上海）有限公司，为母公司TOYO Corporation（中译：东阳特克尼卡）100%全资的中国子公司，成立于2010年9月，凭借多年积累的专业知识经验和技术，始终坚持以技术为桥梁的公司理念，向中国的广大用户提供各行业的测试解决方案，希望为众多的中国客户所信赖，为中国产业界的发展做出贡献。
母公司TOYO Corporation成立于1953年，长期以来，致力于为产业界提供世界尖端的测量仪器，同时以公司长年积累的经验为基础，结合用户需求，积极开展测量领域的技术研发，为客户提供各种测量技术解决方案，支持产业界和科学技术的进步与发展。
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