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ECU的车规级试验：DV试验（六：EMC标准及测试-1）
HSD芯片在开关时的电压及电流波形（来源：左成钢《广义车规级》）
通过和继电器的开关波形相对比就可以发现，HSD芯片在开关过程中，无论是电压还是电流波形都是很纯净和平滑的，HSD芯片会通过控制内部MOSFET门极电压的斜率，进而控制负载电压及电流的上升沿和下降沿的斜率（Slew Rate），这样便可以控制开关过程产生的电磁干扰，进而降低对车辆其他电气设备的电磁干扰。
另外，熔断器在熔断时，会在极短时间内将故障电流切断，但这个电流被切断的过程并非是瞬间完成的。熔断器在熔断的瞬间实际上并没有将电路完全切断，而是会在熔断的部分产生电弧，电弧再将空气击穿后电流将继续流通；但电弧同时也会造成更长的熔丝被熔断，也就是说熔丝熔断的缺口将进一步被拉大，最终由于电弧无法击穿过长的空气间隙，电弧会逐渐熄灭，熔断器才真正的将电路切断。这个过程中会伴随着电流的反复切断与恢复，类似于继电器的触点弹跳，所以熔断器的熔断过程在受到线束分布电容和分布电感的共同影响下，也会产生快速脉冲群，这些瞬态现象在产生传导干扰的同时也会产生辐射干扰。
#05EMC标准简介
车辆的电磁环境从传输路径上可以分为两类：传导和辐射，所以在介绍电磁环境时，从辐射与传导的角度介绍会较容易理解。但是从零部件本身和其他零部件关系的角度出发，就需要转换一下视角，按照干扰/发射（骚扰）与被干扰的维度去进行划分。同理，EMC试验标准也是从这个角度来进行制定的。
汽车电子零部件产品相关的EMC试验标准较环境标准更多，标准也更复杂，更难理解，但大体可以分为两大部分：干扰（骚扰）/发射和抗干扰，如下图所示。
汽车电子零部件EMC试验标准（来源：左成钢《广义车规级》）
1. 干扰（骚扰）/发射
干扰，也被称为骚扰，相关的试验通常被称为发射测试，相应的试验标准如下表所示。
干扰（骚扰）/发射相关试验标准（来源：左成钢《广义车规级》）
GB/T 18655标准为推荐性国家标准，主要参考国际标准IEC CISPR 25，仅适用于零部件，同时涵盖了传导干扰/发射（Conducted Emission，CE）测试及辐射干扰/发射（Radiated Emission，RE）测试两部分。
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