从前端制程溶液奈米级监测到符合AIoT应用的半导体测试
半导体制程技术以极快的速度进步到10奈米、7奈米线宽,在不久的将来更将到5奈米甚至于3奈米。影响制程良率甚巨的奈米粒子监控技术现有技术只能勉强监控大于20奈米的粒子,远远不及产线需求。致茂集团旗下的兆晟奈米科技推出制程良率改善利器SuperSizer奈米粒子监测系统,提供客户对制程液体里小于20奈米的粒子大小及分布,并具有24小时即时监控的能力,能有效防范奈米缺陷形成于未然,大幅改善良率。
随着智慧连网家庭市场的发展,要让住家变得更聪明、更方便,关键在于人工智慧(AI)资料分析技术、大数据(big data)的统计、语音(Audio)辨识系统、以及提升家庭网路连线的技术与安全性。致茂电子近年积极发展专为智慧家庭生态系统所需的SoC晶片的测试设备,持续推出整合性更高的量测解决方案,以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。
Adivic MP5806 RF ATE测试方案,为致茂集团旗下的汇宏科技产品,针对Chroma半导体测试设备(VLSI / SoC测试系统),客户在既有的数位/类比/混合讯号IC应用下,皆可经由选配添购Adivic MP5806,将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案,可支援包含NB-IoT、GPS/BeiDou、Wi-Fi、Bluetooth与Tuner等各主要物联网(IoT)通讯标准,其所内含的10MHz~6GHz全频域覆盖之超高频宽VSG/VSA模组,更可泛用于未来各式无线通讯标准。
Chroma 33010为具有自动测试系统(ATE)功能的PXIe 架构PE card ,除传统ATE测试系统(Chroma 3380D - 256通道 、Chroma 3380P - 512通道 、Chroma 3380 - 1024通道)外,Chroma 33010更符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求,以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势,尤其在IoT 及汽车电子 IC测试上, PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS) 、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。
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