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动力总成HIL测试的主要考量因素
2018-10-11 18:09:28· 来源：恩艾NI
经证明，软件项目如果缺乏足够的需求可追溯性，就会出现较多严重影响系统安全性和可靠性的缺陷。即使是微小的变化，也可能产生很大的连锁效应，导致最终产品无法完全满足项目启动时确定的所有要求。
由于监管机构出于对安全问题的考虑，以及企业不期望发生代价巨大的产品召回事件，因此两者联手，制定了大量关于需求管理的标准、最佳工程实践和软件工具。在未来的项目中，应对需求可追溯性进行硬性规定
测试自动化
在现代测试系统中，从最上层的功能到测量仪器均可自动化。这是一个复杂的过程，涉及来自不同供应商的多个工具和不同操作系统，其中一些任务可能需要在实时HIL系统上执行。因此需要尽早与工具提供商确认，以确保兼容性。测试自动化是经济高效地确保需求可追溯性的关键因素。
除了执行测试脚本来驱动虚拟汽车之外，具有前瞻性思维的组织还会使用测试自动化框架来进一步实现测试执行和自动化。借助这些框架，就可以批量运行测试，对测试数据执行后期处理和分析，并生成报告，且运行时无需任何人工交互。只需配置测试系统，测试执行就可以独立完成。测试自动化可自动将产品需求和测试用例链接到测试结果，帮助工程师更有效地进行沟通。这样就无需人工对测试数据与需求进行比较，从而提高了工作效率。
ECU测试团队的一个高级目标是开发一个提供足够测试覆盖率的测试用例库。这个库是确保ECU质量的关键因素。随着测试用例库不断扩展，测试可以设置为连夜自动运行或者在软件发生变化时自动触发运行回归测试。及时的回归测试报告可以避免最新出现的嵌入式软件错误持续数周并逐渐变得难以修复。
为您的ECU选择合适的HIL系统
开放性、可扩展性、灵活性
选择HIL系统时，首先应考虑是要购买组件并自行集成系统还是购买完整的交钥匙系统。大多数交钥匙系统供应商通常不销售组件，而销售组件的供应商通常通过合作伙伴提供交钥匙系统。
如果选择购买组件，则需要拥有掌握专业知识的工程人员来集成组件，这样可以更灵活地控制系统的可扩展性和定制性。而选择购买交钥匙系统可以减轻工程负担，但必须确保系统能够满足您当前和未来的需求。保证这一点的一个方法是购买“开放”且“可扩展”的平台。由多个供应商支持的开放式平台提供了最大的可能价值并可保护您的投资。
hil测试系统灵活性的重要性
将HIL仿真集成到测试系统的方式有很多种。随着降低测试成本的需求日益迫切，灵活的解决方案对于在开发过程中融入HIL仿真至关重要。高效的HIL仿真解决方案应能够快速适应开发过程中遇到的各种变化，而且不需要大幅修改HIL仿真仪就能够对测试过程或配置进行小改动。以目前的创新速度，单靠一个供应商是无法满足所有最新技术的上市时间、质量和成本预期。基于COTS工具的开放式HIL仿真解决方案可确保您始终可以集成ECU测试所需的技术。
图12. 灵活的HIL测试系统可以满足未来需求和项目扩展的要求。
图12. 灵活的HIL测试系统可以满足未来需求和项目扩展的要求。
尽管HIL系统已广泛应用到嵌入式测试领域，但它们仍然只是测试环节的一部分。在选择HIL测试策略时，请务必考虑除了嵌入式软件验证之外应如何将HIL系统集成到测试工作流程中。相比仅关注测试周期的某个特定领域的公司，对测试具有整体观的测试工具公司能够提供更有价值的见解。
NI HIL平台是一个COTS解决方案，可进行扩展和自定义来满足不断变化的需求。由于其模块化架构和开放式软件，NI工具既可以在小型台式系统上使用，也可以进行扩展，用于具有紧密同步的分布式高通道数系统，例如铁鸟飞机模拟器。 NI设计的产品可以满足从工业控制到消费电子等各个行业的需求。这些要求苛刻的应用所需的性能、可靠性和灵活性同样也适用于工程师进行HIL仿真，这使得NI成为嵌入式软件测试的理想合作伙伴。
全球服务和支持
要从HIL系统获得最大价值，不仅仅需要正确的初始系统设置，除了维持系统正常运行外，还需要培训员工学会使用系统上部署的工具。选择提供合适服务的合适供应商，包括技术支持、系统维护、备件和培训，将有利于最大化您的投资回报。
由于开发的不同环节可能在全球各地完成，因此寻求能够提供全球一致的支持和服务的供应商也很重要。 NI在全球50个国家设有办事处。世界各地的支持团队均由经验丰富的工程师组成，可随时帮助您成功完成HIL测试，这也使得NI成为可靠的嵌入式软件测试工具供应商。
参考文献:
1. Horner, T., “Knock Detection Using Spectral Analysis Techniques on a Texas Instruments TMS320 DSP,” SAE Technical Paper 960614, 1996, doi:10.4271/960614.
2. Viele, M., Stein, L., Gillespie, M., and Hoekstra, G., “A PC and FPGA Hybrid Approach to Hardware-in-the-Loop Simulation,” SAE Technical Paper 2004-01-0904, 2004, doi:10.4271/2004-01-0904.
33279_HIL_AppNotes_WP_A4_CN.pdf
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