贺利氏上海创新中心落成,解锁研发新时代
可进行耐久性试验的测试系统
随意组合复杂测试工艺,达成客户的测试目的
光学显微镜+X射线检查+声波扫描技术
芯片和键合丝的剪切或拉力试验
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